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PRODUCTS CENTER當前位置:首頁產(chǎn)品中心特種設備檢測儀器遠紅外線測試儀IR-2雙波段發(fā)射率測試儀 、遠紅外線測試儀
IR-2IR-2雙波段發(fā)射率測試儀 、遠紅外線測試儀IR-2雙波段發(fā)射率測試儀、遠紅外線測試儀采用反射率法的測試原理,即通過采用主動黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率,進而測出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率。該儀器可測量常溫樣品在3~5um、8~14um、1~22um三個波段發(fā)射率。對特殊需要的用戶,通過的控溫加熱裝置,在常溫至300℃溫度范圍加熱樣品,進行發(fā)射率變溫測量。該儀器主要用于
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IR-2雙波段發(fā)射率測試儀、遠紅外線測試儀
IR-2雙波段發(fā)射率測試儀、遠紅外線測試儀采用反射率法的測試原理,即通過采用主動黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率,進而測出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率。該儀器可測量常溫樣品在3~5um、8~14um、1~22um三個波段發(fā)射率。對特殊需要的用戶,通過的控溫加熱裝置,在常溫至300℃溫度范圍加熱樣品,進行發(fā)射率變溫測量。該儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業(yè)對材料紅外輻射特性的測量研究。目前已在西北核技術所,東南大學等單位使用。
儀器特點:
1.儀器中有小型標準黑體輻射源,采用六位高精度微機控溫儀(能顯示到1mk),使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測量范圍,而且極大地提高了儀器在測量時的可靠性和穩(wěn)定性。
2.采用了*的光學調制技術,使測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。
3.在儀器設計中,考慮到樣品漫反射引起的測量誤差,除鏡反射(MR)探測通道外,還增設了專門的漫反射(DR)補償通道,從而確保了儀器的測量精度。
4.在信號及電子學處理技術上采用鎖相技術和微電子技術,較好地實現(xiàn)了對微弱信號的探測,進一步提高了儀器性能。
5.本儀器操作簡單、使用方便、測量快速。
6.可按需更換濾光片,在多個紅外光譜波段內(nèi)進行測試。
7.在測量過程中不損傷被測樣品。
8.本儀器帶RS-232串口及復位鍵RST。
主要技術指標
1.測量波段:3~5um、8~14um、1~22um
(若用戶有特殊要求,可定制不同波段濾光片)
2.發(fā)射率測量范圍:0.1~0.99
3.靈敏度NE△ε:0.001
4.示值誤差:±0.02 (ε>0.50)
5.重復性:±0.01
6.樣品溫度:常溫(特殊用戶為常溫~300℃)
7.樣品尺寸:Ф50mm
8.測量時間:3秒后按測量鍵E,即顯示ε測量值。
9.顯示方法:LED數(shù)字顯示,末位0.001
10.電源:交流220V 50HZ
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服務電話:
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